«РОСАТОМ» / АО «ГНЦ РФ – ФЭИ»

Предложения к сотрудничеству

Мы открыты для сотрудничества, держим свои обязательства и готовы к реализации самых смелых проектов.

Диагностика поверхности ионными пучками

Исследование элементного состава и структуры поверхностных слоев материалов.

Исследование элементного состава и структуры поверхностных слоев материалов по мгновенному излучению, сопровождающему взаимодействие ускоренных ионных пучков с атомными ядрами, является мощным материаловедческим методом.

В отличие от активационных методов, в данном случае определяется не только концентрация элементов, но и профиль их распределения по глубине.

  • Высокая чувствительность анализа при помощи ускоренных ионных пучков позволяет обнаружить элементы на уровне десятков и единиц частей на миллион. Разрешение по глубине при этом находится в пределах от единиц до десятков нанометров.
  • Анализируемая глубина составляет от нескольких десятков нанометров до нескольких десятков микрон.
  • Анализ является количественным с точностью до нескольких процентов, причем в принципе количественные результаты могут быть получены без использования стандартных образцов сравнения.
  • Анализу подлежат практически все элементы от водорода до урана, причем оказывается доступной и информация о изотопном составе образца.
  • Дозы облучения образцов при проведении анализа невелики, и потому анализ является неразрушающим.